Keysight High-Speed Digital Seminar
Wraz z Keysight Technologies mamy przyjemność zaprosić Państwa na seminarium Keysight High-Speed Digital, które odbędzie się 21 października 2025 r. w Warszawie w ADN Centrum Konferencyjne przy ulicy Grzybowskiej 56.
W prezentacjach omówimy nowoczesne metody analizy i testowania sygnałów cyfrowych, kluczowe zagadnienia pomiarowe oraz najnowsze rozwiązania sprzętowe. Prezentacjom będą towarzyszyć demonstracje oraz pomiary na żywo. Nasi eksperci będą dostępni w ciągu całego dnia i chętnie odpowiedzą na wszelkie pytania. Seminarium skierowane jest do inżynierów, projektantów, menedżerów projektów oraz wszystkich, którzy chcą lepiej zrozumieć wyzwania i rozwiązania związane z pomiarami nowoczesnych systemów cyfrowych. W czasie seminarium planowany jest lunch i przerwy kawowe.
UDZIAŁ W WYDARZENIU JEST DARMOWY! Wymagana jest jedynie rejestracja.
Wykłady prowadzone będą w języku angielskim.
W celu rejestracji prosimy o wypełnienie poniższego FORMULARZA
Program Wydarzenia
| Wykład | |
| 8:30 - 9:00 | Rejestracja uczestników |
| 9:00 - 09:45 | Fundamentals of High Speed Serial Buses |
| 10:00 - 11:00 | Signal Integrity in Action: Practical Insights for High-Speed Designs |
| 11:10 - 12:00 | Addressing test challenges in high-speed serial measurements |
| 12:00 - 13:00 | Lunch |
| 13:00 - 13:30 | Probing solutions in high-speed and power applications |
| 13:30 - 14:30 | Radar and Electronic Warfare (EW) test challenges: capturing, analyzing, and visualizing complex pulse parameters in radar and EW applications |
| 14:30 | Pytania, demo, możliwość testowania przyrządów |
Szczegółowa Agenda
Fundamentals of High Speed Serial BusesHere you will learn the basics of high speed digital. What to consider for accurate measurements, sample rate bandwidth. When data rate increase in the Gb space signal integrity becomes important. We will define the different jitter components taking part of the total Jitter cover how measurements are taken. We will also cover clock recovery, playing an important part of high speed serial measurements.
Signal Integrity in Action: Practical Insights for High-Speed Designs
This presentation moves beyond theory to offer practical solutions for signal integrity challenges in high-speed digital design. Through real-world examples and demos, it provides actionable techniques to accelerate development, reduce re-designs, and improve first-pass success. Attendees will learn to analyze SI issues using eye diagrams, apply equalization to lossy channels, and integrate IBIS models for accurate channel analysis.
Addressing test challenges in high speed serial measurements
This session will highlight key challenges in testing high-speed serial interfaces. Using PCIe Gen4 as a demo setup, a TX compliance test will be demonstrated. The discussion will also cover LPDDR4/5, CAUI-4 (IEEE 802.3bm), and JESD204C, along with a demo of low-speed serial decoding for I²C and CAN.
Probing solutions in high-speed and power applications
The probe will be a part of your circuit under test, the connection itself can make a large impact to the measurement, here you will learn how to get the most out ofyour probed measurement. We will also present the latest Keysight probe introductions. Probing different applications like DDR, USB, power rail.
Radar and Electronic Warfare (EW) test challenges: capturing, analyzing, and visualizing complex pulse parameters in radar and EW applications
Modern radar and electronic warfare (EW) systems operate in increasingly dense and dynamic signal environments. Testing and validating these systems require advanced solutions capable of capturing, decoding, and interpreting high-speed, high-density pulse streams with precision. In this session, you will learn how Keysight’s UXR real-time oscilloscope and VSA software work together to provide deep visibility into pulse characteristics, enabling faster debugging, validation, and optimization.
