FE-SEM 8500B

Skaningowy mikroskop elektronowy

Skaningowy mikroskop elektronowy FE-SEM 8500B

Niewielkich rozmiarów mikroskop o dużych możliwościach.
Zastosowane rozwiązania technologiczne czynią przyrząd idealnym do badań próbek wrażliwych i energetycznie nieodpornych (np. biomateriały, próbki farmaceutyczne) oraz nieprzewodzących (np. polimery) a także stanowiących cienkie warstwy (np. grafen).
Kluczowymi cechami mikroskopu FE-SEM 8500B są:
  • Bardzo jasne źródło (działo elektronowe z termiczną emisją polową – emiter Schottky'ego)
  • Wysoka rozdzielczość przy niskiej wartość napięcia (poniżej 10 nm przy 1 keV)
  • Długi czas pracy źródła – wysoka żywotność źródła
  • Zintegrowany detektor EDS (Energy Dispersive Spectroscopy)
  • Brak konieczności napylania próbki
Karta katalogowa