Seminarium Signal Integrity Measurement Insights
Signal Integrity Measurement Insights - Pomiary Integralności Sygnałów
W imieniu Keysight Technologies mamy przyjemność zaprosić Państwa na Sympozjum Signal Integrity Measurement Insights, które odbędzie się 5 czerwca br. w Warszawie w Golden Floor Plaza, przy Al. Jerozolimskich 123A
Zapraszamy do wzięcia udziału w tym unikalnym sympozjum pokazującym w jaki sposób rozwiązania Keysight mogą pomóc w rozwiązywaniu problemów konstrukcyjnych i pomiarowych pojawiających się podczas pracy nad zaawansowanymi technologiami jutra. Przygotowane prezentacje techniczne będą poświęcone zagadnieniom związanym z projektowaniem i testowaniem układów cyfrowych.
Nasi eksperci będą dostępni w ciągu całego dnia i chętnie odpowiedzą na wszelkie pytania
Sympozjum jest przeznaczone dla inżynierów, konstruktorów, kierowników projektów oraz wszystkich zainteresowanych zrozumieniem ograniczeń oraz proponowanych rozwiązań związanych z projektowaniem i pomiarami nowoczesnych układów elektronicznych.
W czasie seminarium planowany jest lunch i przerwy kawowe.
Wszystkie prezentacje będą tłumaczone.
Więcej informacji na temat Seminariów Signal Integrity Measurements Insights znajdą Państwo na stronie Keysight Technologies
UDZIAŁ W WYDARZENIU JEST DARMOWY! Wymagana jest jedynie rejestracja.
W celu rejestracji prosimy o wypełnienie poniższego formularza
lub kontakt na seminaria@amt.pl
REJESTRACJA ZAKOŃCZONA
Agenda (plan konferencji może ulec niewielkim zmianom)
Streszczenie prezentacji:
Zaawansowane pomiary Jitteru
Podczas charakteryzacji szybkich magistrali szeregowych pomiary jitteru są kluczowe do określenia jakości transmitowanego sygnału oraz oceny stopy błędów (BER). Pomiar jitteru jest skomplikowanym procesem w którym uwzględnić trzeba zegar odbiornika, pętlę synchronizacji fazy (PLL), efekt przesłuchu oraz statystki sygnału aby uzyskać wiarygodną dekompozycję jitteru dla rzeczywistego układu. Podczas tego wykładu przyjrzymy się szczegółom wykonywania zaawansowanych pomiarów jitteru.
Analiza przesłuchu
Przesłuch stanowi duże wyzwanie w projektowaniu nowoczesnych szybkich układów ponieważ może fałszować transmisję danych lub dodawać jitter. Źródłem przesłuchu najczęściej są szybkie magistrale, źródła zasilania, pętle synchronizacji czasu czy zegary referencyjne. Radzenie sobie z przesłuchem może być nie lada wyzwaniem począwszy od zidentyfikowania źródła i rozróżnienia które źródło jak wypływa na Twój sygnał. Podczas tego wykładu opowiemy jak rozwiązywać problemy związane z przesłuchem za pomocą oscyloskopu czasu rzeczywistego.
Zaawansowane pomiary TDR
Odbicia, tłumienie czy przesłuch negatywnie wpływają integralność sygnałów pomiarowych z wykorzystaniem TDR/TDT. W tym wykładzie omówione zostaną pokazane sposoby wykorzystania TDR/TDR do charakteryzacji kanału oraz wykrywania potencjalnych zagrożeń.
Embedding & De-embedding
Zanim sygnał pomiarowy zostanie zmierzony przez Twój oscyloskop najczęściej musi przejść przez różnego rodzaju sondy czy złącza. Finalnie na wejście oscyloskopu doprowadzony jest sygnał zniekształcony przez dodatkowe komponenty. De-embedding to metoda stosowana do eliminacji tych efektów aby uzyskać najlepszą możliwą reprezentację sygnału. W czasie tego wykładu przedstawione zostaną praktyczne aspekty eliminowania wpływu komponentów pomiarowych.
Symulacje integralności sygnałów i zasilania
ADS 2017 to platforma pozwalający wykonywać precyzyjne symulacje płytek PCB pod katem integralności zarówno sygnałów jak i mocy. Ten wykład poświęcony zostanie procesowi tworzenia wstępnego projektu w oparciu o symulację która pozwoli oszacować impedancje, spadki napięcia oraz rezonanse AC, a do tego wykona analizę termiczną i elektrotermiczną.
REJESTRACJA ZAKOŃCZONA
W imieniu Keysight Technologies mamy przyjemność zaprosić Państwa na Sympozjum Signal Integrity Measurement Insights, które odbędzie się 5 czerwca br. w Warszawie w Golden Floor Plaza, przy Al. Jerozolimskich 123A
Zapraszamy do wzięcia udziału w tym unikalnym sympozjum pokazującym w jaki sposób rozwiązania Keysight mogą pomóc w rozwiązywaniu problemów konstrukcyjnych i pomiarowych pojawiających się podczas pracy nad zaawansowanymi technologiami jutra. Przygotowane prezentacje techniczne będą poświęcone zagadnieniom związanym z projektowaniem i testowaniem układów cyfrowych.
Nasi eksperci będą dostępni w ciągu całego dnia i chętnie odpowiedzą na wszelkie pytania
Sympozjum jest przeznaczone dla inżynierów, konstruktorów, kierowników projektów oraz wszystkich zainteresowanych zrozumieniem ograniczeń oraz proponowanych rozwiązań związanych z projektowaniem i pomiarami nowoczesnych układów elektronicznych.
W czasie seminarium planowany jest lunch i przerwy kawowe.
Wszystkie prezentacje będą tłumaczone.
Więcej informacji na temat Seminariów Signal Integrity Measurements Insights znajdą Państwo na stronie Keysight Technologies
UDZIAŁ W WYDARZENIU JEST DARMOWY! Wymagana jest jedynie rejestracja.
W celu rejestracji prosimy o wypełnienie poniższego formularza
lub kontakt na seminaria@amt.pl
REJESTRACJA ZAKOŃCZONA
Agenda (plan konferencji może ulec niewielkim zmianom)
| Wykład | |
| 9:00 | Rejestracja uczestników |
| 9:15 | Powitanie i rozpoczęcie sympozjum |
| 9:30 | Wykład I – Advanced Jitter Measurement |
| 10:40 | Wykład II – Crosstalk Analyses |
| 11:50 | Przerwa kawowa |
| 12:00 | Prezentacja nowego produktu Keysight |
| 12:15 | Wykład III – Solving Signal Integrity Problems with Advanced TDR Measurements |
| 13:25 | Lunch |
| 14:10 | Wykład IV – Embedding & De-embedding |
| 15:20 | Przerwa kawowa |
| 15:30 | Wykład V - Power & Signal Integrity Simulation |
| 16:30 | Zakończenie / Możliwość prezentacji aparatury pomiarowej |
Streszczenie prezentacji:
Zaawansowane pomiary Jitteru
Podczas charakteryzacji szybkich magistrali szeregowych pomiary jitteru są kluczowe do określenia jakości transmitowanego sygnału oraz oceny stopy błędów (BER). Pomiar jitteru jest skomplikowanym procesem w którym uwzględnić trzeba zegar odbiornika, pętlę synchronizacji fazy (PLL), efekt przesłuchu oraz statystki sygnału aby uzyskać wiarygodną dekompozycję jitteru dla rzeczywistego układu. Podczas tego wykładu przyjrzymy się szczegółom wykonywania zaawansowanych pomiarów jitteru.
Analiza przesłuchu
Przesłuch stanowi duże wyzwanie w projektowaniu nowoczesnych szybkich układów ponieważ może fałszować transmisję danych lub dodawać jitter. Źródłem przesłuchu najczęściej są szybkie magistrale, źródła zasilania, pętle synchronizacji czasu czy zegary referencyjne. Radzenie sobie z przesłuchem może być nie lada wyzwaniem począwszy od zidentyfikowania źródła i rozróżnienia które źródło jak wypływa na Twój sygnał. Podczas tego wykładu opowiemy jak rozwiązywać problemy związane z przesłuchem za pomocą oscyloskopu czasu rzeczywistego.
Zaawansowane pomiary TDR
Odbicia, tłumienie czy przesłuch negatywnie wpływają integralność sygnałów pomiarowych z wykorzystaniem TDR/TDT. W tym wykładzie omówione zostaną pokazane sposoby wykorzystania TDR/TDR do charakteryzacji kanału oraz wykrywania potencjalnych zagrożeń.
Embedding & De-embedding
Zanim sygnał pomiarowy zostanie zmierzony przez Twój oscyloskop najczęściej musi przejść przez różnego rodzaju sondy czy złącza. Finalnie na wejście oscyloskopu doprowadzony jest sygnał zniekształcony przez dodatkowe komponenty. De-embedding to metoda stosowana do eliminacji tych efektów aby uzyskać najlepszą możliwą reprezentację sygnału. W czasie tego wykładu przedstawione zostaną praktyczne aspekty eliminowania wpływu komponentów pomiarowych.
Symulacje integralności sygnałów i zasilania
ADS 2017 to platforma pozwalający wykonywać precyzyjne symulacje płytek PCB pod katem integralności zarówno sygnałów jak i mocy. Ten wykład poświęcony zostanie procesowi tworzenia wstępnego projektu w oparciu o symulację która pozwoli oszacować impedancje, spadki napięcia oraz rezonanse AC, a do tego wykona analizę termiczną i elektrotermiczną.
REJESTRACJA ZAKOŃCZONA
